（2022年9月1日付、NIST（国立標準技術研究所）による標記発表の概要は以下のとおり）

NISTは、計測、標準化、モデリング及びシミュレーションにおける7つの戦略的「重要課題 (grand challenge)」の概要を発表し、米国の半導体産業を強化するには、これらの課題に適切に対処する必要があると述べた。NISTは計測科学を専門とする唯一の国立研究所であり、最近制定された「半導体・科学法」（CHIPS and Science Act）は、次世代マイクロエレクトロニクスの進歩と飛躍を可能にするため、国内半導体業界の支援に必須となる計測科学の研究開発を行うようNISTに要請している。計測科学は、ラボにおける基礎及び応用研究開発から、概念実証（proof of concept）、大規模試作、工場での製造、組立及びパッケージング、最終展開前の性能検証まで、半導体技術開発の全段階で必要とされる。デバイスがより小さく、より複雑になるにつれ、製造における品質の計測、監視、予測、保証を行うことは一層困難になっている。

報告書は、産学官から800人以上が参加したNIST主催の半導体計測ワークショップで得られた意見をもとに作成され、商務省による情報提供要請（RFI）や産業部門からのフィードバックを通じて得られた情報も加えられている。

7つの「重要課題」は以下のとおり：

①材料の純度と特性に関する計測技術の開発
②将来のマイクロエレクトロニクス製造
③別々に製造された部品を統合する高度なパッケージング
④サプライチェーン全体にわたるデバイスのセキュリティ強化
⑤半導体材料・設計・部品のモデリングとシミュレーションのためのツールの改善
⑥製造プロセスの改善
⑦新たな材料・プロセス・装置の標準化

[DW編集局+JSTワシントン事務所]